如图甲所示为用干涉法检查某块厚玻璃板的上表面是否平的装置．若待验板的上表面平整，则当平行的单色光照射到标准板上时，可从标

B

单色光射入标准样板后，在标准样板的下表面同时发生反射和折射现象，折射光在被检验玻璃板的上表面再一次发生反射现象；a的下表面的反射光与b的上表面的反射光在a的下表面相遇发生干涉现象，形成干涉条纹．如果待检验的玻璃板的上表面平滑，则发生干涉现象所利用的薄膜厚度均匀增加，所形成的干涉条纹是一系列平行的、等间距的直线；如果被检验的玻璃板上表面有凸起或凹陷，则发生干涉现象所利用的空气薄膜的厚度不再是均匀增加，因而所形成的干涉条纹亦不再是平行的直线．由于同一级干涉条纹的所在处的膜的厚度相同，所以：若被检验的厚玻璃板的上表面有一凹陷，则在其上方的干涉条纹将向低级条纹弯曲；若被检验的厚玻璃板的上表面有一凸起，则在其上方的干涉条纹将向高级条纹弯曲．由此可知，B对；